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[供應]鎮(zhèn)江高低溫沖擊試驗箱/丹陽冷熱沖擊試驗箱
- 產(chǎn)品產(chǎn)地：賽維思試驗設備公司工廠
- 產(chǎn)品品牌：賽維思試驗設備
- 包裝規(guī)格：SW/WDCJ
- 產(chǎn)品數(shù)量：13961195877
- 計量單位：臺
- 產(chǎn)品單價：150000
- 更新日期：2024-11-30 12:55:52
- 有效期至：2034-11-28
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鎮(zhèn)江高低溫沖擊試驗箱/丹陽冷熱沖擊試驗箱
詳細信息
鎮(zhèn)江高低溫沖擊試驗箱/丹陽冷熱沖擊試驗箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)必備的測試設備，用于測試材料結構或復合材料，在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。冷凍機組和機箱底板安裝在一起，制造質量和維護性能不佳。無自動除霜技術，需手動除霜之后方可再進行試驗，使用效率不佳。同行大部分高低溫沖擊測試箱，通常在運行一段時間后開始結霜，并且除霜時間非常長，使用效率低下。
高低溫沖擊試驗箱執(zhí)行與滿足標準:
1、GB/T2423.1-2001低溫試驗方法
2、GB/T2423.2-2001[1]
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗N
4.軍標GJB150.3-86
5.軍標GJB150.4-86
6.軍標GJB150.5-86
7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗
8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗
9、GJB367.2-87405溫度沖擊試驗
10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式
11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式
12、滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化
10、GB/T2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則
11、GB/T2423.22-2002溫度變化
12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則
13、EIA364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。
技術參數(shù)
型號 SW/WDCJ-162 SW/WDCJ-340 SW/WDCJ-500 SW/WDCJ-010
工作室尺寸:mm 450×450×450 600×600×600 800×800×800 1000×1000×1000
樣品區(qū)尺寸:mm 300×300×250 450×450×360 650×650×500 850×850×700
溫度范圍 A:-20℃~200℃
B:-40℃~200℃
C:-60℃~200℃
溫度波動 高溫室及低溫室均≤±2℃
樣品區(qū)溫度波動 ≤±0.5℃(恒溫時)
樣品區(qū)承重 20kg 30kg 50kg
溫度運行控制系統(tǒng) 控制器 日本進口UMC-1300真彩觸摸屏(P、I、D﹢S、S、R)微電腦集成控制器
韓國進口TEMI880真彩觸摸屏(P、I、D﹢S、S、R)微電腦集成控制器
(選其一)
精度范圍 設定精度:溫度±0.1℃，指示精度:溫度±0.1℃，解析度:±0.1℃
制冷系統(tǒng) 進口德國谷輪半封閉水冷式壓縮機組/原裝法國“泰康”/全封閉風冷復迭壓縮制冷方式
循環(huán)系統(tǒng) 耐溫低噪音空調型電機.多葉式離心風輪
溫度轉換時間 從低溫區(qū)到高溫區(qū)或從高溫區(qū)到低溫區(qū)≤5S
溫度恢復時間 ≤5min(與溫度恢復條件有關，既冷卻水溫、暴露溫差、恒溫時間、樣品重量有關)
溫度沖擊方法 垂直兩箱法(兩箱式冷熱沖擊試驗箱)
以上為標準型試驗箱，可根據(jù)用戶的具體要求定做非標型
選購高低溫沖擊試驗箱要注意五個方面:沖擊溫度、試驗負載、復歸時間、除霜時間、sensor放置位置。
購選時，它們有各自的要求，沖擊溫度是指測試區(qū)實際能夠跑到的溫度最大范圍。注意不是預熱和預冷室的極限溫度試驗負載直接影響能夠放置多少測試品。一般說來，這個重量越大越好它是指測試品全部從一個溫度點切換到另外一個溫度點所耗費的時間。我們常見的規(guī)范約定≤5min。這個時間越小越好除霜間隔時間越長越好?，F(xiàn)在有寫廠家能夠做到1000cycles除霜一次，是非常理想的。除霜間隔越短說明該設備的氣密性越差sensor必須放置在測試區(qū)內部。有些廠家將sensor放置在風道內部，雖然與測試區(qū)只有10cm的距離，但是這個能量差異是相當大的。且不能夠真實反映測試品表面的溫度變化。
鎮(zhèn)江高低溫沖擊試驗箱/丹陽冷熱沖擊試驗箱用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質，從精密的IC到重機械的組件，都會用到，是各領域對產(chǎn)品測試的必不可少的一項測試箱。
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