業(yè)界最高垂直分辨率
極高的可靠性和最好的測量重復(fù)性
最高的表面測量和分析速度
最強(qiáng)的使用性,操作簡便,分析功能強(qiáng)大
0.5倍至200倍的放大倍率,在極寬的測量范圍內(nèi),對樣品表面形狀和紋理進(jìn)行表征。
任何倍率下亞埃級至毫米級垂直測量量程提供了無以倫比的測量靈活性。
高分辨率攝像頭可選配件,提高了橫向分辨率和GR&R測量的重復(fù)性。
新的軟件設(shè)計使數(shù)據(jù)處理速度提高幾十倍。
多核處理器和64位軟件使數(shù)據(jù)分析速度提高十倍。
無以倫比的無縫拼接能力,可以把成千上萬個數(shù)據(jù)拼接成一張連續(xù)的完美圖像
 高亮度的雙LED照明專利技術(shù)提高測量質(zhì)量。
最佳化的硬件設(shè)計提高了儀器對震動的容忍度和GR&R測量的能力。
專利的自動校準(zhǔn)能力確保了儀器與儀器之間的相關(guān)性,測量準(zhǔn)確度和重復(fù)性。
優(yōu)化的用戶界面大大簡化測量和數(shù)據(jù)分析過程,從而提高儀器和操作者效率
獨特的可視化操作工具為用戶提供易于學(xué)習(xí)和使用的數(shù)據(jù)分析選項
用戶可自行設(shè)置數(shù)據(jù)輸出的界面
 
三十年技術(shù)創(chuàng)新,迎來第十代全新產(chǎn)品
我們的干涉儀是世界上第一個包含了著名的垂直掃描干涉技術(shù)(VSI模式),掃描頭傾斜調(diào)整,專利的自動校準(zhǔn)和雙LED照明等革新技術(shù)。
ContourGT系列既結(jié)合了這些已被證實的設(shè)計功能,又在硬件上進(jìn)行了大量的改進(jìn),從而給用戶提供了目前世界上最精確的、重復(fù)性最好的光學(xué)輪廓儀性能。Bruker的光學(xué)輪廓儀具有已被證實的,將近三十年的優(yōu)越性能運行跟蹤記錄,從研究型實驗室到生產(chǎn)型工廠的上萬臺安裝記錄。
 
ContourGT-X光學(xué)輪廓儀配備有一體式的氣動平臺和雙層金屬鑄件,此兩種設(shè)計都是為了隔離震動以避免干擾測量效果,從而獲得快速、精確的、可通過GRR測試的測量結(jié)果。
OMM結(jié)合了Bruker專利的雙LED照明光源技術(shù),在任何樣品任意放大倍數(shù)下均可提供卓越的照明強(qiáng)度和均勻性。OMM還能在整個10mm測量量程內(nèi)提供無以倫比的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。馬達(dá)驅(qū)動的多放大倍率檢測器可包含最大三個視場目鏡,以最大化放大倍率的靈活性和穩(wěn)定性。
ContourGT系列可選擇型號中,具有包含Bruker專利技術(shù)的內(nèi)置一級標(biāo)準(zhǔn)自校準(zhǔn)功能的能力,使得閉環(huán)掃描的性能最大化。此模塊包含一個參考信號,在儀器啟動時對系統(tǒng)進(jìn)行自校準(zhǔn),然后連續(xù)監(jiān)控并校正每次測量,以保證絕對的精確度和卓越的重復(fù)性。
Bruker的傾斜調(diào)整支架設(shè)計可使得OMM傾斜,而不是樣品傾斜。這樣,被測量的樣品將總處于聚焦位置,并且在測量的視野中,確保了操作的一致性和簡易性。
*這些選項僅在ContourGT-X3和/ContourGTX8型號上具有。
在ContourGT-X型號中具有全自動的8英寸或12英寸樣品臺。兩種樣品臺均配備有0.5um重復(fù)性的編碼器。ContourGT-K1型具有可選的6英寸馬達(dá)驅(qū)動樣品臺。還可選配具有Z方向聚焦旋鈕的XY操縱桿。
選配的馬達(dá)驅(qū)動塔臺可安裝最多4個干涉物鏡,從1倍至100倍。塔臺設(shè)計確保了當(dāng)您切換物鏡時,您的測試點始終處于聚焦和中心位置。
在防震臺的后面配備有一個LED光源以幫助樣品聚焦和確保操作可觀度。
輔助操作燈泡*
塔臺
自動樣品臺
傾斜調(diào)整支架*
自校準(zhǔn)功能*
光學(xué)計量模塊(OMM)
卓越的震動隔離性能*
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