抗干擾全自動介質(zhì)損耗測試儀
用于測量各種高壓電力設備的介質(zhì)損耗(tgδ)及電容量(Cx)。替代QSI型電橋。
主要特點:內(nèi)附PT和高壓標準電容使接線簡單。
采用光電耦合數(shù)據(jù)采樣測試原理,將矢量運算與移相、倒相法相結合,能強力有效地消除電場干擾。現(xiàn)場適用和適應能力最強最好。在同類型產(chǎn)品中,性能最好,價格最實在。
主要技術指標:
高壓輸出:2kV、5kV、10kV
PT容量:1kVA
量程:tgδ<50% 30pF<Cx<60000pF
介損測量范圍:0.1 ~100%
分辨率:tgδ:0.01% Cx:0.1pF
準確度:tgδ1%±0.05% 電容C1%
絕對誤差: tgδ0.03%
關于我們 | 友情鏈接 | 網(wǎng)站地圖 | 聯(lián)系我們 | 最新產(chǎn)品
浙江民營企業(yè)網(wǎng) bus1net.com 版權所有 2002-2010
浙ICP備11047537號-1