該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
        主要性能指標(biāo)
      ※        波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng):  UV-340探頭:λ:(315~370)nm;λP=340nm
    ※        輻照度測(cè)量范圍:  (0.1~199.9×103)μW/cm2
      ※        紫外帶外區(qū)雜光:  UV340:小于0.05%
    ※        余弦特性:  符合國(guó)家二級(jí)光照度標(biāo)準(zhǔn)
    ※        示值相對(duì)誤差:  ±10%
    ※        響應(yīng)時(shí)間:1秒
    ※        使用環(huán)境:  溫度(0~40)℃;濕度<85%RH
    ※        尺寸和重量:180mm×80mm×36mm;0.2kg
    ※        電源:    9V積層電池(6F22型)一只
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