晶元光罩技術(shù)-多國發(fā)明專利:
測量精度完全不受機械誤差影響
無阿貝誤差
X,Y平面坐標(biāo)精度≤±2.5μm
無需擺正,無需定位,兩點自動對位
直接調(diào)入DXF,DRL進行自動檢測
雙鏡頭實時同步導(dǎo)航地圖功能
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儀光光學(xué):專業(yè)生產(chǎn)銷售影像測量儀、三坐標(biāo)測量機、玻璃厚度測量、激光平面度測量、瑕疵檢測、輪廓檢測、量身定制高效測量機及自動化檢測設(shè)備
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全國銷售熱線:400-0769-718
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