橢圓偏振法測(cè)量的原理很早就已提出,相應(yīng)的測(cè)試方法和設(shè)備也不斷地被改進(jìn)和創(chuàng)新,使得橢圓偏振法成為重要的測(cè)試手段,并廣泛地應(yīng)用在光學(xué)、材料、生物、醫(yī)學(xué)等各個(gè)領(lǐng)域。其中測(cè)量薄膜材料的厚度、折射率和消光系數(shù)是橢圓偏振法最基本、最重要的應(yīng)用之一。更多產(chǎn)品請(qǐng)登錄:moer17
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