yr,HP4284A,LCR,現(xiàn)貨,18926841522
歐陽(yáng)r:13537229325
話:0769-87932051
真 0769-82007511
Q:734645067
技術(shù)指標(biāo)
HP 4284A 精密LCR儀表性能指標(biāo)
頻率范圍:20HZ—1MHZ
阻抗范圍:0.01mΩ-100MΩ
基本測(cè)量精度:0.05%
主要用途
測(cè)試材料的電導(dǎo)率ρ、介電常數(shù)ε、電阻R、電抗X、阻抗Z、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q。
可以完成材料的介電溫譜測(cè)試,測(cè)試溫度范圍:室溫 -1000℃
·電橋 HP4284A0.05%的基本精度,6位數(shù)字分辨率
·恒定的V或I測(cè)試信號(hào)電平
·20Vrms電平選件(選件001)
·用Alilent 42841A進(jìn)給出40Adc
·具有列表掃描測(cè)量功能
Agilent 4284A精密LCR測(cè)試儀是用于元件和材料測(cè)量的價(jià)廉物美的儀器。它通過提供精確、高吞吐量的測(cè)試方法來(lái)改善元件的質(zhì)量。20Hz到1MHz寬的測(cè)頻范圍和優(yōu)良的測(cè)試信號(hào),使4284A在測(cè)試元件時(shí)符合最通行的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如IEC/MIL標(biāo)準(zhǔn),且工作在模擬所使用的工作條件下。無(wú)論在研究開發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量保證中還是進(jìn)貨檢驗(yàn),4284A都能滿足全部LCR測(cè)量要求。
電橋 HP4284A技術(shù)指標(biāo)
被測(cè)參數(shù) |Z|-θ,|Y|-θ,R-X,G-B,C-D,Q,ESR,G,Rp,L-D,Q,ESR,G,Rp;偏差和%偏差
測(cè)量電路模式 串聯(lián)和并聯(lián)
量程轉(zhuǎn)換 自動(dòng)和手動(dòng)
觸發(fā) 內(nèi)部、外部和總線(HP-IB)
延遲時(shí)間 0-60.00s以1ms步進(jìn)
測(cè)量終端 四端對(duì)
測(cè)試電纜長(zhǎng)度 標(biāo)準(zhǔn):0和1m;帶選件006時(shí):0、1、2和4m
積分時(shí)間: 短、中等和長(zhǎng)
取平均: 1-256可程控
測(cè)試信號(hào): 20Hz-1MHz±0.01%8610個(gè)可選擇頻率
測(cè)試信號(hào)方式:
標(biāo)準(zhǔn): 分別在開路或短路的測(cè)量端,而不是在被測(cè)件上對(duì)選一的電壓或電流編程
恒定: 維持被測(cè)件上選定的電壓或電流,而與器件阻抗和變化無(wú)關(guān)
測(cè)試信號(hào): 電平 標(biāo)準(zhǔn) 恒定
4284A 5mV~2V,50μA-20mA 10mV-1V,100μA-10mA
選件001 5mV~2V,50μA-200mA 10mV-10V,100μA-100mA
直流偏置: 標(biāo)準(zhǔn):0V,1.5V和2V
選件:0V-±40V
測(cè)量顯示范圍 參數(shù) 范圍
|Z|,R,X 0.01mΩ-99.9999MΩ
|Y|,G,B 0.01nS-99.9999S
C HP 4284A:0.01fF-9.9999F
L HP 4284A:0.01nH-99.9999kH
D 0.000001-9.99999
Q 0.01-99999.9
θ -180.000°~180.000°
Δ% -999.999%~999.999%
基本測(cè)量精度 |Z|,C,L D
0.05% 0.0005
補(bǔ)充特性:
測(cè)量時(shí)間: 從觸發(fā)命令到處理器界面連接器上的結(jié)束測(cè)量(EOM)輸出的典型測(cè)量時(shí)間
短 40ms
中等 190ms
長(zhǎng) 830ms
選件001直流偏流輸出 100mA
max
顯示器:
LCD點(diǎn)陣顯示: 顯示被測(cè)值,控制設(shè)置,比較極限和判決,列表掃描表,自測(cè)試信息和信號(hào)指示
修正功能 開路/短路誤差為0:消除由測(cè)試夾具雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差
接負(fù)載: 利用已校器件作為參考來(lái)改善測(cè)量精度
列表掃描功能 最多可對(duì)10個(gè)頻率或測(cè)試信號(hào)電平編程??蛇M(jìn)行單次測(cè)試或順序測(cè)試,當(dāng)安裝上選件001時(shí),還能進(jìn)行直流偏壓測(cè)試
比較器
10倉(cāng)室(ten-bin)分類用于一次測(cè)量參數(shù)。輸入/輸出用于一次測(cè)量參數(shù)
倉(cāng)室計(jì)數(shù): 0-999999
列表掃描比較器: 高/符合/低
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