東莞市源益電子有限公司

量測參數(shù) 以下任何參數(shù)皆可測試并顯示于ＬＣＤ： 電感模式 電感（Ｌ），電阻（Ｚ）， 直流電阻Ｒｄｃ及電容（Ｃ）。 適用串聯(lián)／并聯(lián)等效電路 Ｌｏｓｓ?。簦澹颍恚浩焚|(zhì)因素（Ｑ）， 消散因素（Ｄ），交流電阻，相位角……等 Ｈａｎｄｉｅｒ模式 Ｅｎａｂｌｅｓ?。澹椋螅簦椋睿纭。矗鳎椋颍濉。螅悖幔睿睿澹颍蟆。簦铮猓濉。酰螅澹? Ｆｕｎｃｔｉｏｎｓ?。幔蟆。妫铮颉。椋恚穑澹洌幔睿悖洹。恚铮洌濉? Ｗｉｔｈ?。簦瑁濉。幔洌洌椋簦椋铮睢。铮妗。簦酰睿蟆。颍幔簦椋? 變壓器測試模式 各線圈之直流電阻，初級圈／次級圈之漏電感（Ｌｅａｋａｇｅ?。欤睿洌酰悖簦幔睿悖澹┘捌焚|(zhì)因素（Ｑ），圈數(shù)比（ＴＲ），線圈間電容（ｌｎｔｅｒｗｉｎｄｉｎｇ　Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ）及漏電感（Ｌｅａｋａｇｅ?。欤睿洌酰悖簦幔睿悖澹┝砜纱钆浣^緣測試功能（選購）。 通訊測試模式 提供插入損失（ＩＬ）及反射損失（ＲＬ）測試功能，適合于通訊用匹配變壓器ｓｐｅｅｃｈ?。猓幔睿洌ǎ保埃埃龋。簦铩。玻埃耍龋蛇x擇的ｌｉｎｅ　ｉｍｐｅｄａｎｃｅ（Ｚｏ）及ｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎ（Ｒｔ）值，并可設(shè)定額外的模擬阻抗及電容。 圓形分析模式 可在量測模式下以頻率或ＡＣ電壓為掃描基準，來執(zhí)行圓形掃描度顯示結(jié)果?？蛇x擇以ｌｉｎｅａｒ或ｌｏｇ為座標。 多頻率測試模式 可在量測模式下設(shè)定量測參數(shù)及測試條件，最多８種不同的測試頻率，ＰＡＳＳ／ＦＡＩＬ提示功能設(shè)定（依一般值或百分比）。 測式條件 低電壓信號位準 適用于量測Ｌ＋Ｑ，Ｌｓ＋Ｒｓ， Ｃ，Ｚ，Ｔｕｒｎｓ?。遥幔簦椋锛埃蹋澹幔耄幔纾濉? Ｌｎｄｕｃｔａｎｃｅ 頻率范圍 ２０Ｈｚ?。簦铩。常停龋y試ｌｎｔｅｒｗｉｎｄｉｎｇ　Ｃ時低點為１ＫＨｚ） 頻率波段 Ｌｎｃｒｅｍｅｎｔｓ?。铮妗。保ァ。铮颉。猓澹簦簦澹颉。幔悖颍铮螅? Ｒａｎｇｅ?。保玻埃啊。妫颍澹瘢酰澹睿悖椋澹蟆。幔穑穑颍铮? 精準度　±０．０１％ 信號位準 內(nèi)阻５０Ω １ｍＶ?。簦铩。保埃帧。颍恚蟆。椋睿簦铩。铮穑澹睢。悖椋颍悖酰椋簟? ５０ｕＡ?。簦铩。玻埃埃恚痢。颍恚蟆。椋睿簦铩。螅瑁铮颍簟。悖椋颍悖酰椋? ＡＬＣ　ｍａｉｎｔａｉｎｓ?。欤澹觯澹臁。幔穑穑欤椋澹洹。簦铩? ＤＵＴ　ａｔ ±２％，±１ｍＶ?。铮妗。螅澹簟。觯铮欤簦幔纾濉。铮? ±２％　±０．１ｍＡ　ｏｆ?。螅澹簟。悖酰颍颍澹睿? ＤＣ?。猓椋幔蟆≈绷髌珘弘娏? 內(nèi)建１ｍＡ?。簦铩。保痢。洌?，全頻率快速設(shè)定 安全保護開關(guān)設(shè)計 直流電阻測試 低電壓信號位準　?。保埃埃恚? 短路電流　　１０ｍＡ 絕緣測試（選購） 測試電壓選擇?。保埃埃玻埃啊。铮颉。担埃埃帧。洌悖? 電壓輸出誤差范圍　　±３％ 為了使用者操作安全，短路時限流２ｍＡｃ　以下 Ｂｉｎ　Ｈａｎｄｌｅｒ模式（選購） 依照一般值或百分比設(shè)定高點１０段分類功能。 提供個別的Ｐａｓｓ／Ｆａｉｌ信號輸出。 內(nèi)建記憶體，可儲存１００組分類范圍設(shè)定，ＴＴＬ輸出至外接ｂｉｎ　ｈａｎｄｌｅｒ／２５ｐｉｎ　 Ｄ?。簦穑濉〗宇^ 通訊測試模式（選購） 輸出信號位準　　　?。玻钢粒保叮洌拢? 測試時間依信號準而有所有不同 Ｚｏ／Ｒｔ　　　　　　　　?。担埃玻埃埃唉? 一般測試時間　　　?。迹保担? 量測速度 在做阻抗，圈數(shù)比，直流電阻以及絕緣等測試時，共有４種測試速度可依同需求做適當(dāng)選擇，ＭＡＸｉｍｕｍ，ＦＡＳＴ， ＭＥＤｉｕｍ　及?。樱蹋希? ＭＡＸ（２５次／秒）適合于連接ＩＥＥＥ ４８８．２外部控制時使用 ＦＡＳＴ約１０次／秒 ＳＬＯＷ約１次／秒　適用于需要高精度度時． 量測范圍 Ｒ　　　　　　　　　?。埃保挺浮。裕稀。尽。玻铅福? Ｌ　　　　　　　　　?。埃保睿取。簦铩。尽。保埃埃埃取。? Ｃ　　　　　　　　　　?。担疲妗。簦铩。尽。保? 精準度 Ｌｎｄｕｃｔａｎｃｅ／Ｒａｃ／Ｚ／Ｃｐ　　±０．１％＊＊ Ｑ　　　　　　　　　　　　　　　±０．１％（Ｑ＋１／Ｑ）＊＊ Ｄ　　　　　　　　　　±０．００１％（１＋１／Ｄ２）＊＊ Ｔｕｒｎｓ?。颍幔簦椋铩　　　　　　溃埃保ィ? Ｒｄｃ　　　　　　　　　　　　　　±０．５％ ｌｎｓｕｌａｔｉｏｎ　　±５％（５００Ｖ?。簦澹螅簦? ｌｎｓｅｒｔｉｏｎ?。蹋铮螅蟆　　溃埃保ィ洌? Ｒｅｔｕｒｎ?。蹋铮螅蟆　　　溃保ィ洌? 精準度依ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ，Ｚｏ，Ｒｔ，ｒａｎｇｅ，ｌｅｖｅ等設(shè)定不同而有所變化． ＊依測試速度不同而有所變化． ＊＊依頻率及選用功能不同而有所變化．