新科宇電子儀器有限公司

 

 回收 4155C  4155C  4155C 半導體參數(shù)分析儀

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4155C  4155C  4155C 半導體參數(shù)分析儀

4155C  4155C  4155C 半導體參數(shù)分析儀

詳細資料：
 
4155c 半導體參數(shù)分析儀
4155c半導體測試儀是agilent下一代精密半導體測試儀。4155c是描述高級器件的低成本、實驗室級的參數(shù)測試儀。4155c低的電流、電壓精度和內(nèi)置的準靜態(tài)cv測量能力提供了未來擴展的基礎(chǔ)。41501b可擴展測量能力到1a/200v，還可以在4155c上增加低的噪聲雙脈沖發(fā)生器。 4155c提供了基于pc的參數(shù)分析和表征全套方案的環(huán)境。標準配置包括一個參數(shù)分析儀，agilent i/cv 3.0 lite 自動測試軟件，運行windows xp 操作系統(tǒng)的pc。i/cv 3.0 lite 提供一個圖形用戶界面，具有強大的分析工具，探針驅(qū)動和自動測試工具。   
特性
· 4155c提供4個內(nèi)置的源/監(jiān)控單元（mpsmus），兩個電壓源單元（vsus）和兩個電壓監(jiān)控單元（ vmus） · 10 fa 和0.2 uv的測試精度可滿足開發(fā)新的工藝技術(shù)和評價材料 · performs quasi-static capacitance measurements versus voltage measurements · 完成準靜態(tài)的電容對電壓測量 · 自動提取程序參數(shù)而不需要人工操作屏幕光標 · 用超低的smus測量泄漏特性。 · 用集成的脈沖發(fā)生器和選擇開關(guān)自動完成器件表征。 · 用內(nèi)置的應(yīng)力測量模式完成晶片的可靠性測試 · 用圖形用戶界面實現(xiàn)“點擊”測試 · windows環(huán)境提供圖形數(shù)據(jù)分析能力 · 旋鈕掃描功能可以快速檢驗探針是否接觸正常。 · 待機模式消除外部電源的需要 · 觸發(fā)模式可以同步ac/dc測試 · ibasic 用戶功能可以繪圖和分析數(shù)據(jù)。

求購/供應(yīng)如下:

       示波器：TDS3032B TDS1012 TDS2024B TDS3012B TPS2024 DPO7104 TDS5054B
   頻譜分析儀：8594E 8591E E4402B E4404B E4440A 8560E
   網(wǎng)絡(luò)分析儀：8711A 8752C 8753C 8753ES E5062A 8714ES R3767CH R3767CG
   綜合測試儀：CTS65 CMD60 E5515C 8921A 8920A 2945A CMU200
   信號發(fā)生器：33250A E4432B 83525A 8657B SMU200A SML03 SMIQ06
   數(shù)字萬用表：3458A 34401A 34402A 34410A 8845A FLUKE189 FLUKE54200 34411A
 天饋線測試儀：DS8000B N9330A S331A S331B S331D S331C S332A S332B S33AC S332D SA2500EX&nbs