上海魅宇儀器設(shè)備有限公司

覆層測(cè)厚儀參數(shù)：
▲測(cè)頭類型：F。
▲測(cè)量原理：磁感應(yīng)。
▲測(cè)量范圍：0-1250um。
▲低限分辨力：1?m（10um以下為0.1um）。
▲探頭連接方式：一體化。
▲示值誤差：一點(diǎn)校準(zhǔn)（um）±[3%H 1]。
▲兩點(diǎn)校準(zhǔn)（um）： ±[（1～3）%H 1]。
▲測(cè)量條件：最小曲率半徑（mm） 凸 1.5 凹9。
▲基體最小面積的直徑（mm）：ф7。
▲最小臨界厚度（mm）：0.5。
▲溫濕度：0~40℃，20%RH～90%RH。
▲統(tǒng)計(jì)功能：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、
標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）。
▲工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）。
▲測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）上下限設(shè)置。
▲存儲(chǔ)能力：15 個(gè)測(cè)量值。
▲打印/連接計(jì)算機(jī)：可選配打印機(jī)/不能連接電腦。
▲關(guān)機(jī)方式：自動(dòng)。
▲電源：二節(jié)3.6V鎳鎘電池。
▲外形尺寸：150×55.5×23mm。
▲重量：150g。
▲基本配置：主機(jī)。
▲標(biāo)準(zhǔn)片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）。
▲鐵基體。
▲充電器。
▲可選附件。
▲TA230打印機(jī)。漆膜磨耗儀  http://www.chem17.com/st255513/product_13437290.html


覆層測(cè)厚儀基本原理：
本儀器采用了磁性測(cè)厚法，可無損傷地測(cè)量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度（如鋼、鐵、非奧氏體不銹鋼基體上的鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆鍍層）。   基本工作原理是：當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)。測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測(cè)量其變化可計(jì)算覆層的厚度。


覆層測(cè)厚儀基本配置：
▲TT220主機(jī) 一臺(tái)
▲標(biāo)準(zhǔn)樣片 1盒
▲標(biāo)準(zhǔn)基體 1塊
▲充電器 1個(gè)


覆層測(cè)厚儀主要功能：
▲可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正：
▲具有兩種測(cè)量方式地：連續(xù)測(cè)量方式（continue）和單次測(cè)量方式（single）
▲具有兩種工作方式：直接方式和成組方式；
▲具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；
▲設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值地（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO.）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）；
▲具有打印功能，或打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值；
▲具有欠壓指示功能；
▲操作過程有蜂鳴聲提示；
▲具有錯(cuò)誤提示功能；
▲具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。


覆層測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)：
▲測(cè)量速度快：測(cè)量速度比其它TT系列快6倍；
▲精度高 ：本公司產(chǎn)品簡(jiǎn)單校0后精度即可達(dá)到1-2%是目前市場(chǎng)上唯一能達(dá)到A級(jí)的產(chǎn)品，其精度遠(yuǎn)高于時(shí)代等國內(nèi)同類.比EPK等進(jìn)口產(chǎn)品精度也高；
▲穩(wěn)定性：測(cè)量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進(jìn)口產(chǎn)品；
▲功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文。


覆層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介：
該儀器是一種超小型測(cè)量?jī)x，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測(cè)量。可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。由于該儀器體積小、測(cè)頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。 本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》。


覆層測(cè)厚儀功能特點(diǎn)：
采用了磁性測(cè)厚方法，可無損地測(cè)量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）。


覆層測(cè)厚儀是設(shè)計(jì)合理的產(chǎn)品。