北京歐福中天科技有限公司西安辦事處

主營:光纖熔接機(jī),光時域反射儀OTDR,光功率計(jì),紅光源,,,光纖切割刀,數(shù)字場強(qiáng)儀,
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[供應(yīng)]西安一級代理商供應(yīng)美國信維S20A/N光時域反射儀OTDR
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  • 產(chǎn)品產(chǎn)地:美國
  • 產(chǎn)品品牌:美國信維
  • 包裝規(guī)格:S20A/N
  • 產(chǎn)品數(shù)量:10
  • 計(jì)量單位:臺
  • 產(chǎn)品單價(jià):1
  • 更新日期:2013-12-16 09:53:20
  • 有效期至:2023-12-14
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西安一級代理商供應(yīng)美國信維S20A/N光時域反射儀OTDR 詳細(xì)信息

信維S20系列光時域反射儀


ShinewayTech? 的palmOTDR系列掌上型光時域反射儀是一款獨(dú)具匠心的光纖線路分析尋障產(chǎn)品,為光纖通信網(wǎng)測試提供了一種全新的應(yīng)用方式,其穩(wěn)定性和驚人的性價(jià)比在全球范圍內(nèi)廣受矚目。

其與傳統(tǒng)OTDR相比,尺寸更加小巧,操作更為簡潔,獨(dú)特的熱鍵功能使事件的瀏覽和分析更加快捷;功能齊全,全面滿足單模(1310/1550nm)、多模(850/1300nm)光纖測試應(yīng)用需求,支持平均/實(shí)時雙測量模式;其多功能背包亦充分考慮到了野外作業(yè)和實(shí)驗(yàn)室測試的操作方便,可充分滿足不同用戶和各種現(xiàn)場測試需求,使其成為目前發(fā)展迅速的農(nóng)話網(wǎng)、城域網(wǎng)和FTTx光纖施工、例檢、搶修和維護(hù)中的首選工具。

另外,其強(qiáng)大的內(nèi)部存儲能力,可與隨機(jī)配帶的跡線管理軟件——TraceManager通信,實(shí)現(xiàn)測量結(jié)果的后期分析處理、存檔及打?。黄淇苫Q光接頭設(shè)計(jì),滿足了多種連接器類型的應(yīng)用需求。

 


v 性能特點(diǎn):

l 輕巧便攜,針對農(nóng)話網(wǎng)、城域網(wǎng)應(yīng)用

l 功能齊全,單/多模應(yīng)用可選

l 高測距精度,大容量數(shù)據(jù)存儲(300條測試曲線)

l 無硬盤設(shè)計(jì),防震、防潮,適合野外環(huán)境

l 配有RS232/USB接口,支持?jǐn)?shù)據(jù)上傳

l PC機(jī)分析軟件方便測試數(shù)據(jù)歸檔和報(bào)表

l LCD顯示激光器發(fā)射和電池狀態(tài)

l 內(nèi)置NiMH充電電池,一次充電可支持至少 4小時連續(xù)測量

l 具有電池電量不足提前報(bào)警功能,報(bào)警后你仍有足夠的操作時間

l 通過CE、FCC、FDA認(rèn)證

l 通過1米墜落測試

 


v 應(yīng)用范圍:

palmOTDR主要用于進(jìn)行下列測試:確定光纜/光纖故障點(diǎn)、聯(lián)接點(diǎn)/斷點(diǎn)位置,描述光纜、光纖損耗分布曲線,測量纜光纖長度、兩點(diǎn)之間的距離、損耗、衰減數(shù),測量光纜、光纖連接頭的插入損耗,測量光纜、光纖反射損耗。

可廣泛適用于城域網(wǎng)、廣域網(wǎng)、CATV、局域網(wǎng)等通訊系統(tǒng)中單/多模光纖光纜的安裝、排障、改造和維護(hù),要定位、排除長距離光纖中帶故障的連接頭、壞的接續(xù)點(diǎn),palmOTD都是一種性能優(yōu)異、價(jià)格實(shí)惠的測試工具。







v 技術(shù)參數(shù)

型 號
 palmOTDR-S20
 palmOTDR-M20
 
S20A/N
 S20B/N
 S20C/N
 M20A/N
 
動態(tài)范圍(dB)
 24/24
 32/32
 38/37
 18/22
 
光纖類型
 單模
 多模
 
波    長(±20nm)
 1310/1550
 850/1300
 
顯示屏類型
 TFT純彩
 
光源類型
 LD
 
光 接 口
 FC/PC(可互換SC, ST)
 
測試范圍(Km)
 0.3、1.3、2.5、5、10、20、40、80、120、160、240
 0.1、0.3、0.5、1.3、2.5、5、10@850nm;

0.1、0.3、0.5、1.3、2.5、5、10、20、40、80@1300nm
 
脈    寬 
 5ns、10ns、12ns、30ns、100ns、275ns、300ns、1μs、2.5μs、10μs、20μs
 12ns、30ns、100ns、275ns、1μs@850nm;

12ns、30ns、100ns、275ns、1μs、2.5μs@1300nm
 
測量時間
 15s、30s、1min、2min、3min
 
衰減盲區(qū) 
 25m
 15m
 20m
 
事件盲區(qū) 
 10m
 3m
 7m
 
測距精度
 ±(1 m + 5×10-5×距離+取樣間距)
 
衰減測量精度
 ±0.05dB/dB
 
反射測量精度
 ±4dB
 
數(shù)據(jù)存儲
 300條測試曲線
 

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