MICRO USB 3.0 B 型SMT外DIP

測量儀器大廠泰克(Tektronix)在上個月第一家宣布了用于USB 3.0的測試工具，可以幫助開發(fā)人員驗證新規(guī)范與硬件設(shè)計之間的兼容性。

USB 3.0在實際設(shè)備應(yīng)用中將被稱為“USB SuperSpeed”，順應(yīng)此前的USB 1.1 FullSpeed和USB 2.0 HighSpeed。預(yù)計支持新規(guī)范的商用控制器將在2009年下半年面世，消費級產(chǎn)品則有望在2010年上市。

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