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銷售部洪先生:18965131356(微信同號)固話:0592-5072236QQ:1665532815
帶程序的芯片 
     
    1.eprom芯片一般不宜損壞.因這種芯片需要紫外光才能擦除掉程序, 
     
    故在測試中不會損壞程序.但有資料介紹:因制作芯片的材料所致,隨著 
     
    時間的推移(年頭長了),即便不用也有可能損壞(主要指程序).所以要 
     
    盡可能給以備份. 
     
    2.eeprom,sprom等以及帶電池的r *** m芯 *** ,均極易破壞程序.這類芯片 
     
    是否在使用<測試儀>進行vi曲線掃描后,是否就破壞了程序,還未有定 
     
    論.盡管如此,同仁們在遇到這種情況時,還是小心為妙.筆者曾經(jīng)做過 
     
    多次試驗,可能大的原因是:檢修工具(如測試儀,電烙鐵等)的外殼漏電 
     
    所致. 
     
    3.對于電路板上帶有電池的芯片不要輕易將其從板上拆下來. 
     
    二.復(fù)位電路 
     
    1.待修電路板上有大規(guī)模集成電路時,應(yīng)注意復(fù)位問題. 
     
    2.在測試前最好裝回設(shè)備上,反復(fù)開,關(guān)機器試一試.以及多按幾次復(fù) 
     
    位鍵. 
     
    三.功能與參數(shù)測試 
     
    1.<測試儀>對器件的檢測,僅能反應(yīng)出截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū).但不 
     
    能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等. 
     
    2.同理對ttl數(shù)字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無 
     
    法查出它的上升與下降沿的速度.
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DI620 
3BHT300002R1 
DLM01
DAI04
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H-AAIRA8608TAI16
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CI810V1 
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07KT98H1 
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07KT98H0 
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57310001-CX 
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DAO01
6204BZ10100D
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INLIM03
DSSB146
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