深圳市天一興業(yè)環(huán)保技術有限公司

標準主機包含單色化Al K?? X射線源和Mg/Al K??雙陽極非單色化X射線源，可實現大面積XPS分析、小面積XPS分析和ISS分析以及XPS快速平行成像等功能。 兼容多種其它表面分析技術，如 AES/SAM、UPS，并可增加各類樣品制備裝置。 高功率的單色化Al K?? X射線源，確保最高的分析靈敏度。 平均半徑165mm的能量分析器，確保高能量分辨XPS分析。 專利的浸入式磁透鏡技術，大幅度提高分析靈敏度。 專利的XPS Mapping技術，最小束斑15??m，可進行微區(qū)元素和化學態(tài)空間分布分析。 專利的同軸超低能無陰影單電子源荷電中和器，完美解決絕緣體XPS分析。 全自動5軸常中心樣品臺，實現全自動角分辨XPS分析。 最佳能量分辨率優(yōu)于 0.45eV（Ag 3d5/2）。 常規(guī)分析能量分辨和靈敏度高達0.55eV@1.1Mcps（Ag 3d5/2）。 絕緣體分析的分析能量分辨和靈敏度高達0.68eV@16kcps（PET的C 1s）。 選配單色化Al/Ag雙陽極X射線源，實現高能XPS分析。 結合了數據采集和數據處理的Vision軟件，可運行于Windows XP/Vista/7等多種平臺下，實現各真空室真空度實時顯示，操控真空閥門開關，實驗條件設定和全自動無人值守分析等強大功能。 聯系人 區(qū)經理 電話 13823581593 QQ 2868059266 地址 深圳市福田區(qū)八卦三路88號榮生大廈702室 固定電話：0755-25870896 網址 www.ges-tech.cn