使用金相顯微鏡系列配合起偏,檢偏及DIC微分干涉,可以很好的觀察屏的導(dǎo)電粒子,確認(rèn)導(dǎo)電粒子個(gè)數(shù)是否符合要求。
首先,需要觀察導(dǎo)電粒子必須要有配有DIC 及起偏檢偏器的金相顯微鏡。對(duì)于觀察導(dǎo)電粒子來(lái)說(shuō)一般選用的鏡頭是要求為不超過(guò)20倍為最好,超過(guò)后會(huì)由于景深的問(wèn)題導(dǎo)致觀察效果模糊,無(wú)法觀察到最好的效果。
準(zhǔn)備好金相顯微鏡及必要的屏后就可以開(kāi)始觀察導(dǎo)電粒子了。首先把DIC及起偏檢偏拉出,然后把屏放置在載物臺(tái)上,調(diào)整好焦距,通過(guò)載物臺(tái)移動(dòng)后找到觀察位置?,F(xiàn)在插入起偏及檢偏器,通過(guò)目鏡觀察屏上位置,再調(diào)節(jié)檢偏器,直到光線最黑時(shí)停止調(diào)節(jié)檢偏器。最后插入DIC,調(diào)節(jié)DIC進(jìn)行偏光直到看到導(dǎo)電粒子最清晰時(shí)就可以停止了
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