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JIMA（日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì)），致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器，其中包括無(wú)損檢測(cè)儀器，JIMA分辨率測(cè)試卡，用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。

JIMARTCT-01分辨率測(cè)試卡（專用于三維CT系統(tǒng)分辨率測(cè)試）

測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中

圖案布局：T型

線/空間尺寸：5種規(guī)格圖案，

                     3μm，4μm，5μm，6μm，7μm





JIMARTRC-04分辨率測(cè)試卡

測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中

盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×5mm

芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.015mm

圖案布局：T型

線/空間尺寸：32種規(guī)格圖案，

0.1μm，0.15μm，0.2μm，0.25μm，0.3μm，0.35μm，0.4μm，0.5μm，0.6μm，0.7μm，0.8μm，

0.9μm，1.0μm，1.5μm，2.0μm，3.0μm，4.0，5.0μm，6.0μm，7.0μm，8.0μm，9.0μm，10.0μm，






 JIMARTRC-02分辨率測(cè)試卡

測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中

盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×15mm

芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.06mm

圖案布局：L型

線/空間尺寸：16種規(guī)格圖案，

0.4μm，0.5μm，0.6μm，0.7μm，0.8μm，0.9μm，1.0μm，1.5μm，

2.0μm，3.0μm，4.0μm，5.0μm，6.0μm，7.0，10.0μm，15.0μm






JIMARTRC-05分辨率測(cè)試卡

測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中

盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm

芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm

圖案布局：T型（3-10μm）

I型（15-50μm）

線/空間尺寸：16種規(guī)格圖案，

3μm，4μm，5μm，6μm，7μm，9μm，10μm（T型）

15μm，20μm，25μm，30μm，35μm，40μm，45μm，50μm(I型)


SAG: JIMARTCT-01，JIMARTCT-01分辨率測(cè)試卡，RTCT-01分辨率測(cè)試卡，JIMA測(cè)試卡