上海柏毅試驗(yàn)設(shè)備有限公司

納米硅薄膜太陽能用高低溫試驗(yàn)箱|高低溫試驗(yàn)機(jī)|高低溫試驗(yàn)箱

納米硅薄膜太陽能用高低溫試驗(yàn)箱測試目的：確定組件于溫度重復(fù)變化時(shí)，引起的疲勞和其它應(yīng)力的熱失效。

產(chǎn)品用途：太陽能電池模塊的設(shè)計(jì)使用年限大約是20～30年，而可靠度試驗(yàn)是仿真陸上太陽光電模塊(晶硅、非晶硅、薄膜、聚光型)的設(shè)計(jì)驗(yàn)證，讓模塊能夠在一般氣候下長期操作20年以上，規(guī)范要求太陽能電池需進(jìn)行：Thermal cycle test(溫度循環(huán)測試)、Humidity-freeze test(濕冷凍測試)、Damp Heat(濕熱測試)，以確認(rèn)太陽能電池能夠承受高溫高濕之后隨級的零下溫度影響，以及對于溫度重復(fù)變化時(shí)引起的疲勞和熱失效，另外確定太陽能電池能夠抵抗?jié)駳忾L期滲透之能力。

納米硅薄膜太陽能用高低溫試驗(yàn)箱

(IEC61215 ， IEC61646 ， UL1703，IEC62108 ， IEEE1513，IEC61730 )

相關(guān)規(guī)范資料介紹：

硅晶太陽能:IEC61215、UL1703、GB9535

薄膜太陽能:IEC61646、GB18911

聚光太陽能:IEC62108、IEEE1513 humidity-freeze test(濕冷凍測試)

納米硅薄膜太陽能用高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格：

產(chǎn)品型號：TH-容量

內(nèi)箱尺寸：按客戶要求外型尺寸：

納米硅薄膜太陽能用高低溫試驗(yàn)箱性能參數(shù)：

▲測試環(huán)境條件下：環(huán)境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無試樣條件下

▲測試方法：GB/T 5170.2-1996溫度試驗(yàn)設(shè)備/GB/T 5170.5-1996濕熱試驗(yàn)設(shè)備（僅濕熱型）

▲溫度范圍：負(fù)載-40℃→+85℃/（空載－70℃到150℃）

▲溫度波動(dòng)：±0.5℃

▲溫度分布精度：±2.0℃

▲濕度范圍：20%～98%R.H

▲濕度波動(dòng)：±2.5%R.H.

▲濕度分布精度：±4.0%.

柏毅主營產(chǎn)品：高低溫試驗(yàn)箱、小型高低溫試驗(yàn)箱、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱、步入式試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、精密型高溫試驗(yàn)箱、紫外老化試驗(yàn)箱、氙燈老化試驗(yàn)箱、鹽霧試驗(yàn)箱、循環(huán)鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱、交變鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱、復(fù)合式鹽霧試驗(yàn)箱等等

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