上海恩迪檢測控制技術(shù)有限公司

主營:無損檢測設(shè)備
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[供應(yīng)]恩迪檢測-定制化DR檢測系統(tǒng)
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  • 產(chǎn)品產(chǎn)地:上海
  • 產(chǎn)品品牌:恩迪
  • 包裝規(guī)格:定制化DR檢測系統(tǒng)
  • 產(chǎn)品數(shù)量:10
  • 計(jì)量單位:臺
  • 產(chǎn)品單價:0
  • 更新日期:2020-07-23 13:27:21
  • 有效期至:2020-08-02
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恩迪檢測-定制化DR檢測系統(tǒng) 詳細(xì)信息

定制化DR檢測系統(tǒng)

 

 關(guān)鍵特征:

多種射線機(jī)可選 定制化機(jī)械系統(tǒng) 支持多種平板探測器,探元大小可選50微米/100微米/139微米/200微米  

射線管

類型

可同時安裝高功率小焦點(diǎn)射線源、反射型高功率微焦點(diǎn)射線管和穿透型納米焦點(diǎn)射線源

最大管電壓

小焦點(diǎn)射線管:450kV/600kV

微米焦點(diǎn)射線管:225kV/240kV/300kV/450kV

納米焦點(diǎn)射線管:190kV/225kV

冷卻

封閉式自循環(huán)冷卻

焦點(diǎn)大小

小焦點(diǎn)射線管450kV:0.4mm@700W/1.0mm@1500W(EN12543)

小焦點(diǎn)射線管600kV:0.5mm@700W/1.5mm@1500W(ASTME1165-12)

微米焦點(diǎn)射線管225kV/240kV:2微米(采用JIMA卡測試)

微米焦點(diǎn)射線管300kV:3微米(采用JIMA卡測試)

納米焦點(diǎn)射線管:0.5微米 (采用JIMA卡測試)

探測器

類型

非晶硅平板探測器/線陣探測器

像素大小

50um/100um/127um/139um/200um

像素?cái)?shù)量

平板探測器:>2048′2048

機(jī)械系統(tǒng)

類型

高精度機(jī)械系統(tǒng)

最大檢測范圍

可定制化

最大承重

可定制化

旋轉(zhuǎn)

nx360°

軟件

類型

二維射線檢測

軟件功能

系統(tǒng)控制、二維射線檢測、平板探測器校正、圖像處理、灰度分析,支持定制化軟件功能

屏蔽室

溫度和濕度

專用空調(diào)系統(tǒng),用于控制鉛房內(nèi)的溫度和濕度

輻射防護(hù)

根據(jù)德國 R?V,法國 NFC74100 和美國性能標(biāo)準(zhǔn) 21CFR1020.40 制造,無需進(jìn)一步改造的全防護(hù)屏蔽鉛房。對于最終使用,須由使用人員根據(jù)當(dāng)?shù)叵嚓P(guān)法律法規(guī)申請相應(yīng)的認(rèn)證許可。

 

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