深圳市禾苗分析儀器有限公司

   深圳市禾苗分析儀器有限公司，是一家集膜厚儀x2034d9n、XRF為一體的綜合型現(xiàn)代化企業(yè)，為廣大客戶奉獻(xiàn)專業(yè)、高品質(zhì)的膜厚分析儀專營機(jī)構(gòu)。

   深圳市禾苗分析儀器有限公司致力于通過X熒光光譜儀的不斷創(chuàng)新和運(yùn)用，努力創(chuàng)建業(yè)內(nèi)更加高品質(zhì)的服務(wù)。禾苗分析在任重道遠(yuǎn)的前進(jìn)征途上，真誠歡迎廣大用戶及合作伙伴與我們一起攜手同進(jìn)，共創(chuàng)輝煌。 延伸拓展 詳情介紹：膜厚測試儀在什么條件下測量更準(zhǔn)確 基體金屬特性 對于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。 對于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。 基體金屬厚度 檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，無損檢測資源網(wǎng)如果沒有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。 邊緣效應(yīng) 不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測量。 曲率 不應(yīng)在試件的彎曲表面上測量。 讀數(shù)次數(shù) 通常由于儀器的每次讀數(shù)并不完全相同，因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。 表面清潔度 測量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。 膜厚測試儀自制鐵基情況及方法 膜厚測試儀在一些精確測量時(shí)需用戶自制鐵基，這樣測量情況主要有以下幾種： a、測量精度要求甚高； b、材質(zhì)（或?qū)Т怕剩┡c儀器鐵基相差甚遠(yuǎn)； c、工件幾何形狀復(fù)雜； d、工件厚度在2mm以下。 用下述方法自制鐵基: a、用與被測工件厚度相同、材質(zhì)相同的剛才做成方形或圓形鐵基，滄州歐譜要求表面平整光潔、無涂層或銹蝕，尺寸不小于本儀器所具備鐵基尺寸； b、用已清除污物、表面光潔、無涂層的工件毛坯做鐵基。以同種工件毛坯作鐵基校正是最好的方法。詳情參考滄州歐譜檢測儀器有限公司膜厚測試儀儀器使用說明書。

   深圳市禾苗分析儀器有限公司將繼續(xù)秉持“創(chuàng)新、執(zhí)著、責(zé)任、共贏”的企業(yè)核心價(jià)值觀，通過不斷提升禾苗分析儀器儀表的服務(wù)能力，在發(fā)揮自身優(yōu)勢的同時(shí)，塑造具有吸引力的平等、開放、包容、快樂的企業(yè)文化！更多公司詳情介紹，敬請撥打熱線：0755-96219363，或登錄公司官網(wǎng)：heleex。