深圳市禾苗分析儀器有限公司

   禾苗分析專注于ROHS測試儀的研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)，提供各類光譜儀x2034d9n、膜厚分析儀、鹵素檢測儀，品類齊全、技術(shù)領(lǐng)先、性價比高，目前公司已在國內(nèi)核心城市設(shè)立常駐銷售與服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)。詳情請咨詢張先生18319999072。

   創(chuàng)新是深圳市禾苗分析儀器有限公司成功的基石。在未來，禾苗分析也希望不斷地創(chuàng)新，為廣大顧客提供膜厚分析儀服務(wù)。多年來，禾苗分析始終相信只有堅(jiān)持創(chuàng)新和專業(yè)，才能更好的滿足客戶對最常用的XRF的需求。 延伸拓展 詳情介紹：膜厚測試儀校準(zhǔn)方法 膜厚測試儀校準(zhǔn)方法 1儀器校零 1．1將測量探頭壓在鐵基上（或不帶涂層的測量體上），滄州歐譜再輕按一下校零鍵ZERO進(jìn)行校零。在按ZERO鍵時，測量探頭在鐵基上不要晃動。同時要注意，只有在按完ZERO鍵后，才能提起探頭，否則，校零不正確。 1．2將測量探頭提起（或不帶涂層的測量體上），觀察鐵基上的測量值，若測量值在0附近，說明校零成功，否則，應(yīng)得新校零。 2儀器校滿度 2．1根據(jù)要測量的涂層厚度，選擇 適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)膜片，進(jìn)行滿度校準(zhǔn)。 2．2先將標(biāo)準(zhǔn)膜片放在鐵基上（或不帶涂層的測量體上）。 C2．3再將測量探頭壓在標(biāo)準(zhǔn)膜片上，測量值就顯示在顯示器上，若測量值與標(biāo)準(zhǔn)膜片不同，測量值可通過加1鍵或減1鍵來修正。修正時，測量探頭一定提起，否則，按加1鍵或減1鍵無效。 2．4為保證校滿度的準(zhǔn)確性，可通過多次測同一標(biāo)準(zhǔn)膜片來驗(yàn)證。

   經(jīng)過多年來的不懈努力，深圳市禾苗分析儀器有限公司形成了以儀器儀表服務(wù)為主導(dǎo)、集最常用的XRF與最新推出的鹵素檢測儀為一體的經(jīng)營模式，鑄造了一個“與時俱進(jìn)、團(tuán)結(jié)協(xié)作、勤奮敬業(yè)、開拓進(jìn)取”的員工團(tuán)隊(duì)。在新的發(fā)展階段，謀求更快、更大發(fā)展，需要禾苗分析傳承者與時代同步、不斷超越。更多公司服務(wù)詳情，敬請撥打熱線：0755-96219363，或登錄公司官網(wǎng)：heleex。