深圳市禾苗分析儀器有限公司

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   深圳市禾苗分析儀器有限公司將恪守“靠誠信求生存，憑信譽謀發(fā)展”的經(jīng)營宗旨，具有多年從事商務服務經(jīng)驗的高素質(zhì)專業(yè)化團隊，禾苗分析將真誠地為您提供熱情周到的儀器儀表服務，并與國內(nèi)外各界朋友真誠合作，共同發(fā)展，共創(chuàng)美好未來! 延伸拓展 產(chǎn)品詳情：膜厚測試儀校準方法 膜厚測試儀校準方法 1儀器校零 1．1將測量探頭壓在鐵基上（或不帶涂層的測量體上），滄州歐譜再輕按一下校零鍵ZERO進行校零。在按ZERO鍵時，測量探頭在鐵基上不要晃動。同時要注意，只有在按完ZERO鍵后，才能提起探頭，否則，校零不正確。 1．2將測量探頭提起（或不帶涂層的測量體上），觀察鐵基上的測量值，若測量值在0附近，說明校零成功，否則，應得新校零。 2儀器校滿度 2．1根據(jù)要測量的涂層厚度，選擇 適當?shù)臉藴誓て?，進行滿度校準。 2．2先將標準膜片放在鐵基上（或不帶涂層的測量體上）。 C2．3再將測量探頭壓在標準膜片上，測量值就顯示在顯示器上，若測量值與標準膜片不同，測量值可通過加1鍵或減1鍵來修正。修正時，測量探頭一定提起，否則，按加1鍵或減1鍵無效。 2．4為保證校滿度的準確性，可通過多次測同一標準膜片來驗證。

   禾苗分析秉承“顧客至上，銳意進取”的經(jīng)營理念，堅持“客戶第一”的原則為廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的XRF、ROHS測試儀等產(chǎn)品和服務。歡迎廣大客戶惠顧！官網(wǎng)地址：heleex